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International conference ICDS defects in semiconductors
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título
International conference ICDS defects in semiconductors |
edição
Aveiro : Universidade, 1997 |
dimensões
47,5 x 30,5 cm. |
descritores
Semicondutores (materiais)
Defeitos |
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Texto do cartaz: Aveiro, Portugal, July 21-25, 1997. University of Aveiro. Texto descritivo (em língua inglesa) sobre vários aspectos da conferência como data, tema e subtemas, local, contactos, apresentações e publicações. Contactos para informações sobre a conferência. Lista do comité de consultores internacionais |
URL
http://sinbad.ua.pt/cartazes/CT-UA-I-324 |
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